Zespół Szkół Zawodowych Nr 6
im. Joachima Lelewela
Facebook
Vimeo
Show Navigation
Hide Navigation
Strona główna
Patronat
Informacje
Kalendarz roku szkolnego
Dla Rodziców
Dziennik Librus dla rodziców
Bezpieczeństwo w Internecie
Dla Nauczycieli
Dla Uczniów
Egzamin Foto
Koło Krystalograficzne
Dokumenty aplikacyjne na staż zagraniczny
Informacja o przetwarzaniu danych osobowych
Informatyka 1F
3D
3F Multimedia
5F Multimedia
Bezpieczeństwo w Internecie
Laboratorium Edukacyjne ECDL nr PL-LAB1775
Informatyka 1D
Informatyka 1R
Informatyka_2018
2C Pracownia
Wolontariusze Lelewela
Samorząd Uczniowski
Rada Rodziców
Deklaracja dostępności
Regulaminy
Statut
Wewnątrzszkolne Ocenianie
Przedmiotowe Zasady Oceniania
Regulamin Oceny Zachowania
Regulamin Praktycznej Nauki Zawodu
Kontakt
Sport
Archiwum wydarzeń
Rekrutacja
Regulamin przyjęć
Oferta edukacyjna
Ulotki
Dokumenty
Informacje dodatkowe
Typy Szkół
Technikum Poligraficzno – Administracyjne
technik fotografii i multimediów
technik grafiki i poligrafii cyfrowej
technik logistyk
technik reklamy
technik procesów drukowania
Branżowa Szkoła I stopnia nr 7
drukarz
magazynier-logistyk
operator procesów introligatorskich
fotograf
Projekty
Nauczyciel – nowoczesny i świadomy Europejczyk
Nabór na staże zagraniczne
Modernizacja wraz z wyposażeniem Zespołu Szkół Zawodowych nr 6 im. Joachima Lelewela w Poznaniu
Wyposażenie placówek oświatowych w nowoczesny i wysokospecjalistyczny sprzęt technologiczny na terenie MOF Poznania
Międzynarodowe staże zawodowe – edycja III
Poprawa jakości procesu kształcenia w nauce zdalnej
Współpraca dla zawodowej przyszłości
Włączamy ZERO WASTE
Podniesienie kompetencji
Projekt OSEhero
Kwalifikacje zawodowe kluczem do sukcesu
YouNG Goes Euro
LPB
Młodzieżowe Miniprzedsiębiorstwo
Wirtualne labolatoria
Staże we Włoszech i Wielkiej Brytanii
Cyfrowobezpieczni
E – materiały
II Edycja Międzynarodowych Staży Zawodowych
Plan lekcji
Zastępstwa
RODO
Librus
Zuzanna Kegel
Ta strona wykorzystuje pliki cooki dla lepszego działania serwisu. Możesz zablokować pliki cooki w ustawieniach przeglądarki
więcej informacji
Tak
